CXT2661手持式四探针测试仪

CXT2661手持式四探针测试仪

CXT2661手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料方阻/电阻/电阻率的多用途综合测量装置仪器。本仪器采用高性能微处理器，用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、宽量程、精度高、稳定性好、智能化程度高的特点。该仪器内置的大容量锂电池以及低功耗设计，使得仪器能长时间进行方便而的方阻/电阻率测量，所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入并保存；手动/自动转换量程可选。

CXT2661手持式四探针测试仪应用
　　仪器可根据客户需要配置不同的测试探头，测量半导体材料、柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、太阳能材料、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等材料的电阻率/方阻，也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻、开关接触电阻等。 本仪器采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
　　仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校等研究生产单位对导体、半导体材料、类半导体材料、器件的导电性能的测试，满足对材料(棒材、片材等)和导电薄膜方块电阻测量的需要。

成套组成

　　由CXT2661主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。

探头选型指南

　　根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等材料的电阻率/方阻。
　　由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此该仪器可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头。
　　根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详细请见探头选型表。

CXT2661手持式四探针测试仪探头选型表

CXT2661手持式四探针测试仪性能特点
1、32位核心处理器，测量精度高、稳定性好
2、大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3、高精度：电阻基本精度：0.1％   方阻基本精度：5 ％  电阻率：5 ％
4、测量范围宽： 电阻：10-3Ω－2*104Ω 
方阻：10-3Ω/□－105Ω/□ 
电阻率：10-3Ω.cm－105Ω.cm
5、可手动或自动选择测试量程
6、正反向电流源修正测量误差
7、材料厚度可预设，自动修正样品电阻率，无需查表
8、全量程自动清零功能
9、采用采用6000mAH锂电电池供电，一次充电可长时间使用.
10、3档分选功能，1档合格,1档超上限,1档超下限
11、适合各种测试探头，可测多种材料和参数

CXT2661手持式四探针测试仪技术指标

 

 

标准配件

 

可选配件