38DL Plus 美国泛美超声波测厚仪 美国泛美超声波测厚仪 38DL Plus是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可*地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的美国泛美超声波测厚仪 38DL Plus可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。 美国泛美超声波测厚仪 38DL Plus: |
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• 可用右手或左手单手操作的简洁的键区。
• 可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
• 内置和外置MicroSD存储卡。
• USB和RS-232通讯端口。
• 可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
• 可连接计算机或显示器的VGA输出。
• 默认或自定义双晶探头设置。
• 默认或自定义单晶探头设置。
• 密码保护功能可以锁住仪器的功能。
38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中zui常使用的是双晶探头。
• 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能。
• 10个自定义双晶探头设置。
• 校准过程中用于双晶探头的优化默认增益。
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
• 校准过程中出现回波加倍时使用的校准加倍功能。
• 用于测量带有漆层和涂层表面的材料的穿透涂层和回波到回波测量功能。
• 高温测量:温度可高达500°C。
• 锅炉管件和内部氧化层测量(可选项),使用M2017或M2091单晶探头。
• EMAT探头(E110-SB),用于对外部附有氧化层/沉积物的锅炉管件进行不使用耦合剂的厚度测量。
使用单个底面回波测量金属的实际厚度。使用这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度。这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,要测量金属的厚度,不再需要减去表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。
材料中的温度差异会影响材料声速和厚度测量的精确性。用户使用温度补偿功能可以手动输入校准试块的温度值和测量时的实际(高)温度值。38DL PLUS自动显示经过温度校正的厚度值。
38DL PLUS使用高级算法测量锅炉管件内壁氧化层/沉积物的厚度。测厚仪同时显示锅炉管件的金属基底厚度和氧化层的厚度。了解氧化层/沉积物的厚度可以预测管件的寿命。建议在此项应用中使用M2017或M2091探头。
用户使用这项正等待通过的新功能可以为几乎所有双晶探头创建一条自定义V声程补偿曲线。在为大多数双晶探头保存和调用自定义设置时,这条曲线也被同时保存和调用。
用户只需校准并输入已知厚度值(zui小3个校准点;zui大10个校准点),仪器就会创建V声程补偿曲线。
所有标准的双晶探头都具有自动探头识别功能。这个功能可以为每种不同类型的探头自动调用默认V声程校正。
用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供各种频率、直径和接口类型的单晶探头。用户使用高分辨率软件选项可以进行分辨率为0.001毫米的极其精确的厚度测量。
• 对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。
• 在使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头的情况下,高分辨率软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
• 多层软件选项可对多达4个不同层的厚度同时进行测量。
• 测量厚度、声速或渡越时间。
• 带有默认和自定义设置的自动调用应用简化了厚度测量。
用户使用这个选项可在使用低频单晶探头(低到0.5 MHz)的情况下,测量橡胶、纤维玻璃、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。
这个软件选项计算并同时显示多达4个不同层的厚度测量值。
这个功能还可显示所选各层的总厚度。典型的应用包括对塑料燃料箱中的阻挡层、瓶子的预成型坯及软性隐型眼睛进行的厚度测量。
38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。
• 内置存储容量为475000个厚度读数或20000个带有厚度读数的波形。
• 32位字符的文件名称。
• 20位字符的ID# (TML#)编码。
• 9个文件格式:增量型、序列型、带自定义点的序列型、2-D栅格型、带自定义点的2-D栅格型、3-D栅格型、3-D自定义型、锅炉型及手动型。
• 每个ID# (TML)编码可zui多存储4个注释。
• 注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上。
• 内置和外置MicroSD存储卡。
• 可以在内置和外置MicroSD存储卡之间拷贝文件。
• 标准USB和RS-232通信。
• 单晶和双晶探头设置的双向传输。
• 机载统计报告。
• 机载DB栅格视图,带有3种可编程的颜色。
• GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信,可以读取MicroSD存储卡上的数据,还可以在存储卡上写入信息。
• 可将内部文件以与Excel兼容的CSV(以逗号分隔值)格式直接导出到MicroSD存储卡。
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机载DB栅格视图,带有3种可编程的颜色。 |
• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据。
• 创建数据集和测量总结。
• 编辑所存数据。
• 显示数据集和测量总结文件,文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值。
• 从测厚仪上下载厚度测量总结,或上传厚度测量总结至测厚仪。
• 将测量总结导出到电子表格及其他程序。
• 收集捕获的屏幕。
• 打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告。
• 升级操作软件。
• 下载和上传单晶和双晶探头设置文件。
• B扫描回顾
38DL PLUS数字式超声测厚仪,交流电源或电池供电,50 Hz~60 Hz。
标准双晶探头套装盒
• 充电器/AC适配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC)
• 内置数据记录器
• GageView接口程序
• 试块和耦合剂
• USB线缆
• 橡胶保护套,带有支架和颈挂带
• 用户手册
• 两年有限担保
测量功能:穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、zui小值/zui大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/zui小值模式
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